T-200P 探针台（标准8寸晶圆探针台）、国产高端探针台、金相显微镜探针台

一款适用于8英寸及以下晶圆测试的标准探针台，台面加宽设计，便于摆放更多探针座，实现复杂灵活的测试应用。
常用于对器件的 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数进行测试；接口兼容主流测试仪器。
升级版的T-200系列探针台，台面可快速升降，或微调升降。具备快速装片功能。其载物台可选气动式和丝杆传动式相结合的位移模式，具有快速移动的优点，又可以实现准确的位移调节。特别适合晶圆测试应用，或是多个器件，样片的批次测试，提高整体测试效率。

科研、生产、旗舰型探针台T-200型

样品台材质：铝合金、PTFE、陶瓷、镀金（可选）

样品台尺寸：6、8、12英寸 ，全吸附孔设计。

光学倍率：20X~50X/100X/500X/1000X（选配）

台面具有一杆升降、带探针预接触功能、探针悬浮功能

台面升降功能：0~0.25mm/40mm/50mm（可调）

显微镜单元具备气动升高功能，可升高60mm。

Chuck具有一杆升降、微调升降功能

Chuck具有可360度旋转，可±5度精细微调

Chuck具有快速位移功能 （X轴、Y轴）

标配3个样品台，分别应用于晶圆、晶粒（单颗芯片）、MEMS模组（或校准片）

针座平台C型设计，可放置4~8个探针座

整体：670mm长*755mm宽*572mm高

重量：约100千克